氢化锆表面CO<sub>2</sub>反应层XPS分析

赵平; 彭倩; 孔祥巩; 邹从沛

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氢化锆表面CO₂反应层XPS分析

1. 中国核动力研究设计院核燃料及材料国家重点实验室, 成都, 610041;
2. 西华大学, 成都, 610039

基金项目:

中国核动力研究设计院核燃料及材料国家级重点实验室基金资助(51481260105SC0301)

详细信息

作者简介:
赵平(1954-),男,教授,1999年毕业于四川大学材料学专业,获博士学位。现主要从事特种材料及制备技术研究;彭倩(1969-),女,副研究员,2003年毕业于四川大学金属材料专业,获硕士学位。现主要从事核材料研究;孔祥巩(1939-),男,研究员级高工,1961年毕业于上海交通大学金属学及热处理专业。现主要从事核材料和燃料元件研究。

中图分类号: TG146.4⁺14:TG115.3
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出版历程
- 收稿日期: 2005-09-20
- 修回日期: 2006-01-23
- 网络出版日期: 2025-07-29

X-Ray Photoelectron Spectroscopy Analysis of Film Formed by Reaction CO₂ and Zirconium Hydride

1. National Key Laboratory of Nuclear Fuel and Materials, Nuclear Power Institute of China, Chengdu, 610041, China;
2. Xihua University, Chengdu, 610039, Chin

摘要

摘要: 通过X射线光电子能谱分析了经过700℃加热前后的用CO₂反应法制备的氢化锆表面反应层中一定深度(100nm、200nm和300nm)的C、O和Zr的化学态,并用相对灵敏度因子法对X射线光电子能谱分析结果进行了计算分析。结果表明:700℃加热前的膜层中含有C、O和Zr以及C—H键和—OH键;经过700℃加热以后,氢化锆表面氢渗透阻挡层中不仅有C—H键和—OH键,而且还出现了—COOH,与H结合的C、O量增大。
- 氢化锆 /
- CO₂反应层 /
- X射线光电子能谱分析 /
- 氢渗透 /
- 相对灵敏度因子法
Abstract: The chemical states of carbon,oxygen and zirconium at the depth of 100nm,200nm and 300nm in a film created by reaction of CO₂ with zirconium hydride upon the zirconium hydride sample had been investigated with the X-ray Photoelectron Spectroscopy before and after heating to 700℃,and the X-ray Photoelectron Spectroscopy analysis results had been calculated using the relative sensitivity factor method.The results showed that the film consisted of carbon,oxygen and zirconium,and also —OH bond and C—H bond before heating to 700℃,after heating to 700℃ there were not only —OH bond and C—H bond but also —COOH in the hydrogen permeation barrier,and the quantity of carbon and oxygen which were com-bined with hydrogen has increased.
- Zirconium hydride /
- Film created by CO₂ reaction /
- Hydrogen permeation /
- X-ray Photo-electron Spectroscopy analysis /
- Relative sensitivity factor method