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氢化锆表面CO2反应层XPS分析

赵平 彭倩 孔祥巩 邹从沛

赵平, 彭倩, 孔祥巩, 邹从沛. 氢化锆表面CO2反应层XPS分析[J]. 核动力工程, 2006, 27(6): 62-65,69.
引用本文: 赵平, 彭倩, 孔祥巩, 邹从沛. 氢化锆表面CO2反应层XPS分析[J]. 核动力工程, 2006, 27(6): 62-65,69.
ZHAO Ping, PENG Qian, KONG Xiang-gong, ZOU Cong-pei. X-Ray Photoelectron Spectroscopy Analysis of Film Formed by Reaction CO2 and Zirconium Hydride[J]. Nuclear Power Engineering, 2006, 27(6): 62-65,69.
Citation: ZHAO Ping, PENG Qian, KONG Xiang-gong, ZOU Cong-pei. X-Ray Photoelectron Spectroscopy Analysis of Film Formed by Reaction CO2 and Zirconium Hydride[J]. Nuclear Power Engineering, 2006, 27(6): 62-65,69.

氢化锆表面CO2反应层XPS分析

基金项目: 

中国核动力研究设计院核燃料及材料国家级重点实验室基金资助(51481260105SC0301)

详细信息
    作者简介:

    赵平(1954-),男,教授,1999年毕业于四川大学材料学专业,获博士学位。现主要从事特种材料及制备技术研究;彭倩(1969-),女,副研究员,2003年毕业于四川大学金属材料专业,获硕士学位。现主要从事核材料研究;孔祥巩(1939-),男,研究员级高工,1961年毕业于上海交通大学金属学及热处理专业。现主要从事核材料和燃料元件研究。

  • 中图分类号: TG146.4+14:TG115.3

X-Ray Photoelectron Spectroscopy Analysis of Film Formed by Reaction CO2 and Zirconium Hydride

  • 摘要: 通过X射线光电子能谱分析了经过700℃加热前后的用CO2反应法制备的氢化锆表面反应层中一定深度(100nm、200nm和300nm)的C、O和Zr的化学态,并用相对灵敏度因子法对X射线光电子能谱分析结果进行了计算分析。结果表明:700℃加热前的膜层中含有C、O和Zr以及C—H键和—OH键;经过700℃加热以后,氢化锆表面氢渗透阻挡层中不仅有C—H键和—OH键,而且还出现了—COOH,与H结合的C、O量增大。

     

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出版历程
  • 收稿日期:  2005-09-20
  • 修回日期:  2006-01-23
  • 网络出版日期:  2025-07-29

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